27. Juni 2014

Weitere Erhöhung der NAND Flash Zuverlässigkeit für Freescale Vybrid Module

F&S hat die Zuverlässigkeit des NAND Flashs auf den Boards mit Freescale Vybrid Prozessoren weiter erhöht.
Dazu wurde ein Verfahren entwickelt um einen Ausfall des Flashs durch „Read Disturbance“ zu verhindern.
Durch einen Block-Swap Algorithmus werden die Blöcke, bei denen ein baldiger Ausfall wahrscheinlich ist, aufgefrischt.
Auch bei einem Spannungseinbruch während des Auffrischens ist die Datenintegrität gewahrt.
Auch die Verwendung von Hardware ECC mit hoher Anzahl von korrigierbaren Bitfehlern und der Einsatz von robusten Dateisystemen, die für die Verwendung mit NAND Flash optimiert sind, z.B. UBI oder die F&S Eigenentwicklung F3S, sorgen dafür, dass das System in den allermeisten Situationen bootfähig und das Dateisystem in einem definierten Zustand ist.

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